BLET Mesures et Contrôle sera présent au 14ème Congrès de métrologie METROLOGIE 2009, du 22 au 25 juin 2009 Au Palais des Congrès (PARIS - Porte Maillot).
Organisé tous les 2 ans le Congrès International de Métrologie est à ce jour la seule manifestation de cette envergure en Europe, que ce soit en terme de nombre de conférenciers, de participants ou de secteurs couverts. Participent à cette manifestation des professionnels confrontés à la maîtrise de la mesure dans l’industrie, les laboratoires et organismes, des professionnels de la santé, des constructeurs et utilisateurs d’appareils de mesures, des responsables qualité, des managers et des décideurs, des enseignants et des chercheurs.
Le Congrès est une occasion unique de rencontres et d’échanges pendant trois jours autour de tables rondes industrielles, de conférences, d’une exposition sur les dernières évolutions techniques pour des spécialistes et présentées par des spécialistes de la métrologie. BLET présentera ses différents départements orientés métrologie industrielle et environnement : KÄFER France, BAREISS France, LEITECH France, STEINMEYER France et THIES France avec tout particulièrement en exposition :
- La mesure de dureté avec les duromètres BAREISS pour essais DIDC / IRHD
- Contrôleurs d'épaisseur et du comparateur : KAEFER N°1 européen
- Micromètres et passamètres STEINMEYER
- Les jauges de profondeur LEITECH
- La gamme d'anénomètres THIES
- Et d'autres nouveautés...
